雙光束掃描紫外可見分光光度計純度光譜儀：光度測量：150可同時測量1～6個波長處的透過率和吸光度。6395光譜測量：1098在波長范圍內進行透過率、吸光度和能量的圖譜掃描，并可進行各種數據處理如峰谷檢測、導數運算、譜圖運算等。定量測量：單波長、雙波長、三波長和多波長測定。1～9點工作曲線（1～4次）回歸。動力學測定：在任意設定的波長處進行透過率和吸光度的時間掃描并可進行各種數據運算。

產品型號：HX-UV1100

更新時間：2023-10-30

廠商性質：生產廠家

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產品介紹

一、雙光束掃描紫外可見分光光度計純度光譜儀產品介紹

1、光度測量：可同時測量1～6個波長處的透過率和吸光度。

2、光譜測量：在波長范圍內進行透過率、吸光度和能量的圖譜掃描，并可進行各種數據處理如峰谷檢測、導數運算、譜圖運算等。

3、定量測量：單波長、雙波長、三波長和多波長測定。1～9點工作曲線(1～4次)回歸。

4、動力學測定：在任意設定的波長處進行透過率和吸光度的時間掃描并可進行各種數據運算。

5、數據輸出：可進行數據文件和參數文件的存取，測量結果以標準通用的數據文件格式輸出。

二、雙光束掃描紫外可見分光光度計純度光譜儀產品參數

產品	HX-UV1100PC		HX-UV1100PCS
操作模式	主機操作或PC機操作，含聯機軟件，可單機掃描
波長范圍	190-1100nm
光譜帶寬	1nm		0.5/1.0/2.0/3.0/5.0nm可調
光學系統	雙光束，CT式光路；1200線/毫米激光全息衍射光柵
波長精度	±0.1nm（D2656.1nm）,±0.3nm（全波長范圍）
波長重復性	≤0.1nm
工作方式	T,A,C,E
光度范圍	-4-4A;0-200%T;
光度精度	±0.002A(0-0.5A)，±0.004A（0.5-1A），±0.2%T(0～100%T)
光度重復性	±0.001A(0-0.5A)，±0.002A（0.5-1A），±0.1%T(0～100%T)
雜散光	≤0.02%T
基線平直度	±0.0004A
穩定性	±0.0004A(500nm處)
光度噪聲	±0.0004A
數據輸出	320×240圖形顯示液晶屏
	可選配USB2.0打印機和/或U盤數據輸出，USB連上層軟件
光源	進口長壽命鎢燈、氘燈
外形尺寸	670x560x260mm
重量	24kg	26kg